Hersteller:
IBM Deutschland GmbH

Format: Whitepaper

Größe: 225 KB

Sprache: deutsch

Datum: 20.05.2010

Da die Entwürfe von Embedded-Produkten immer komplexer und die Produktlebenszyklen kürzer werden, ist eine effiziente Entwicklung unerlässlich. Gerade die Produktivitätslücke zwischen Entwicklung und den letztendlichen Softwaretests stellt Unternehmen vor eine große Hürde. Wie sie diese überwinden und Mängel frühzeitig erkennen können, wird im vorliegenden White Paper erläutert. So werden u.a. die Vorteile modellorientierter Tests hervorgehoben und ein Ansatz für deren Erstellung beschrieben. Darüber hinaus wird dokumentiert wie solche Softwaretests von externen Quellen, wie bspw. der Qualitätssicherung, durchgeführt werden können.